
電子負(fù)載在開關(guān)電源測(cè)試時(shí)的三種方法
1、負(fù)載效應(yīng)測(cè)試
負(fù)載效應(yīng)是用于靜態(tài)性能測(cè)試,被測(cè)電源在預(yù)定負(fù)載變化時(shí)穩(wěn)定輸出,電子負(fù)載用于負(fù)載效應(yīng)測(cè)試,測(cè)試過程中會(huì)受到銜接線影響,因此需要給電子負(fù)載進(jìn)行遠(yuǎn)端補(bǔ)償。
2、PARD測(cè)試:PARD測(cè)試在參數(shù)恒定情況下,在規(guī)則帶寬范圍內(nèi)輸出電壓會(huì)對(duì)均勻值的周期性和隨機(jī)性產(chǎn)生偏離,需要具體看測(cè)試環(huán)境來選擇有效值還是峰峰值,其中峰峰值可提供幅度,在短時(shí)間內(nèi)可確定尖峰信息,但其的帶寬會(huì)受到采樣頻率影響,如果被測(cè)電源的頻率高就需要借助更高帶寬的示波器;而有效值能確定預(yù)期的信噪比,有效值需要通過有效值電壓表測(cè)試得出。
3、瞬態(tài)響應(yīng)測(cè)試:這種測(cè)試方法主要用于動(dòng)態(tài)性能測(cè)試。瞬態(tài)響應(yīng)測(cè)試不能單從應(yīng)用方面評(píng)價(jià)性能,因?yàn)槠鋾?huì)受到一些不穩(wěn)定因素影響,如輸出電容、反應(yīng)環(huán)響應(yīng)時(shí)間、系統(tǒng)瞬態(tài)電流等。
推薦閱讀