
電子負(fù)載是通過控制內(nèi)部功率(MOSFET)或晶體管的電導(dǎo)(占空比的大?。┖凸β使艿墓膩硐碾娔艿钠骷?蓽?zhǔn)確檢測充電電壓,精確調(diào)節(jié)充電電流。同時可以模擬負(fù)載短路。模擬負(fù)載是感性的阻性和容性的,負(fù)載電流的上升時間是容性的。一般來說,開關(guān)電源的調(diào)試和測試是必不可少的。
電子負(fù)載集成具有許多測試設(shè)備功能,如瞬態(tài)負(fù)載恢復(fù)時間、限流特性分析、效率、啟動時間、源效應(yīng)(調(diào)節(jié)率功率)、程序響應(yīng)時間、PARD(紋波和噪聲)、功率因數(shù)、電壓鎖存現(xiàn)象、過壓關(guān)斷、漂移等。
電子負(fù)載可以通過多種方式執(zhí)行電源測試。它們通常是可編程的,但大多數(shù)電子負(fù)載需要外部DAC 編程器。這種能力可以在測試過程中精確控制負(fù)載值,并為測試設(shè)備的操作員提供有價值的狀態(tài)信息。電子負(fù)載一般采用FET設(shè)計,比使用繼電器和電阻的解決方案更可靠、更簡單。他們還可以選擇操作模式:恒流(CC)、恒壓(CV) 和恒阻(CR)。最復(fù)雜的電子負(fù)載將在單個產(chǎn)品中提供所有這三種模式,具有最大的測試靈活性,也提供測量直流電壓和電流的通用解決方案。電子負(fù)載的最后一個優(yōu)點是它可以提供總線上的讀數(shù),而無需使用在某些測試中測量電壓和電流的數(shù)字萬用表。
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